专家你好！
我们有项目发现LM5175芯片损坏，其输入电源为拖拉机的蓄电池，输出为12V稳压电源。Ti的分析报告如下：
Failed CT in ShDAO
Fault isolation done, hotspot was observed at the diode between SW and boot\\\
Analysis result: EOS damage
从报告来看是芯片SW和BOOT两个pin之间的diode被击穿，原因通常是电气过载。
我们检查了电路，SW连接到功率电感两端，而BOOT的电压直接由LM5175输出，似乎不会出现电气过载的状况，不知能否提供一些分析建议。非常感谢！